Rat писал(а):
Уважаемый Александр Т., большое спасибо за ссылки. Но прежде чем переходить к построению другой модели, мне нужно детально проанализировать эту - дело в том, что эти уравнения взяты не с потолка. Мне бы хотелось, если это возможно, обсудить данную модель - в чем ее неверность или неадекватность?
Мне легче будет сначала рассказать, как бы сделал я, а затем сравнить это с тем, что сделали Вы, обосновывая свой выбор и критикуя Ваш.
Сначала, я ввел бы плотность заряда ионов, предполагая, что характерная ширина области ионизации за счет излучения много меньше характерной ширины распределения электронов
![$$q_\mathrm{i}(x)=q_\mathrm{is}(I)\delta(x)+q_\mathrm{iv}[\mathop{\mathrm{sign}}(x)+1]/2,$$ $$q_\mathrm{i}(x)=q_\mathrm{is}(I)\delta(x)+q_\mathrm{iv}[\mathop{\mathrm{sign}}(x)+1]/2,$$](https://dxdy-02.korotkov.co.uk/f/1/7/7/1774bdfd5181bc7587d88f857babca5982.png)
(1)
где

--- интенсивность излучения (до его проникновения в вещество!),

--- дельта-функция Дирака,

--- функция знака

--- объемная плотность заряда ионов, существующих без излучения, (заданная константа),

--- поверхностная плотность заряда ионов, существующих за счет излучения, (заданная функция

). Вы задали концентрацию ионов и тем самым тоже задали плотность заряда электронов. Однако задали так, что роль излучения отсутствует (

). (Кроме того, Вы неявно положили, что могут быть лишь ионы с одним выбитым электроном, что является непонятно откуда взятым ограничением, хотя и не влияющим качественно на окончательный результат.)
Более точная модель должна как-то учитывать ионизацию за счет излучения, исходя из каких-то соображений, и давать некоторое распределение дополнительного заряда ионов, связанного с излучением. Как мне недавно пришло в голову, довольно хорошим приближением можно считать предположение о том, что интенсивность излучения убывает по экспоненциальному закону по мере проникновения в вещество, а плотность дополнительного заряда пропорциональна интенсивности. Тогда имеем
![$$
q_\mathrm{i}(x)
=
\left[
\dfrac{q_\mathrm{is}(I)}{\lambda}
\exp\left(-\dfrac{x}{\lambda}\right)
+
q_\mathrm{iv}
\right]
[\mathop{\mathrm{sign}}(x)+1]/2,
$$ $$
q_\mathrm{i}(x)
=
\left[
\dfrac{q_\mathrm{is}(I)}{\lambda}
\exp\left(-\dfrac{x}{\lambda}\right)
+
q_\mathrm{iv}
\right]
[\mathop{\mathrm{sign}}(x)+1]/2,
$$](https://dxdy-02.korotkov.co.uk/f/9/a/6/9a6e45d16358563d12557b3c22aec14d82.png)
(1a)
где

--- некоторый определяющий затухание интенсивности излучения коэффициент, имеющий размерность длины и физический смысл характерной ширины области ионизации за счет излучения (так что, если он порядка размера атома, то физичнее будет пользоваться формулой (1)).
Дальше я бы вывел уравнения, определяющие концентрацию электронов

. Одно из них --- это уравнение Пуассона
![$$
\dfrac{\mathrm{d}^2\varphi(x)}{\mathrm{d}x^2}
=
-
4\pi
\left[
q_\mathrm{i}(x)
-
e n(x)
\right]
,
$$ $$
\dfrac{\mathrm{d}^2\varphi(x)}{\mathrm{d}x^2}
=
-
4\pi
\left[
q_\mathrm{i}(x)
-
e n(x)
\right]
,
$$](https://dxdy-03.korotkov.co.uk/f/2/5/a/25a8f4d56a2c6afddbd6f3390a732fe882.png)
(2)
где

--- элементарный заряд (взятый со знаком плюс),

--- потенциал электрического поля. У Вас это уравнение есть (отличается от моего только заданной плотностью заряда ионов; это отличие уже обсуждалось).
Выписанное выше уравнение (2) не учитывает поляризуемость ионов и атомов кристаллической решетки. Ее можно учесть введя диэлектрическую проницаемость

, которая в общем случае может зависеть от координаты

. Тогда вместо уравнения (2) нужно использовать уравнение
![$$
\dfrac{\mathrm{d}}{\mathrm{d}x}
\left[
\varepsilon(x)
\dfrac{\mathrm{d}\varphi(x)}{\mathrm{d}x}
\right]
=
-
4\pi
\left[
q_\mathrm{i}(x)
-
e n(x)
\right]
.
$$ $$
\dfrac{\mathrm{d}}{\mathrm{d}x}
\left[
\varepsilon(x)
\dfrac{\mathrm{d}\varphi(x)}{\mathrm{d}x}
\right]
=
-
4\pi
\left[
q_\mathrm{i}(x)
-
e n(x)
\right]
.
$$](https://dxdy-01.korotkov.co.uk/f/c/0/1/c01e77b91d59f669e2ac34028a3740e082.png)
(2a)
В качестве второго уравнения я бы по-простому взял одночастичную функцию распределения электронов в приближении самосогласованного поля
![$$n(x)
=
n_0\exp\left[-\dfrac{-e\varphi(x)+\mu(x)}{kT}\right]
$$ $$n(x)
=
n_0\exp\left[-\dfrac{-e\varphi(x)+\mu(x)}{kT}\right]
$$](https://dxdy-03.korotkov.co.uk/f/e/6/b/e6bdba5ee41952b8f4f3a4cb225364bb82.png)
(3)
(насколько я могу судить, именно такой подход применяется в теории Гюи-Чепмена). Здесь

--- некоторая константа, определяемая из условий нормировки (в данном случае точнее, из граничных условий),

--- постоянная Больцмана,

--- температура,

--- химический потенциал электронов, в данном случае имеющий вид

(4)
где

--- работа выхода электрона.
Формулу (3) можно вывести и исходя из сильно упрощенной для данного случая многоскоростной модели сплошной среды. В рамках этой модели диэлектрик или металл рассматривается как совокупность двух континуумов --- электронного газа и абсолютно твердого тела, моделирующего кристаллическую решетку ионов и атомов. Плотность электронного газа определяется уравнением равновесия
где

--- давление электронного газа,

--- его плотность заряда,

--- напряженность электрического поля. В одномерном случае это уравнение дает дифференциальное уравнение для
решение которого дается формулой (3).
Константа

определяется из следующего граничного условия на бесконечности
Поскольку суммарный заряд электронов равен суммарному заряду ионов, и
то

(5)
(последними условиями мы определили также и константу, с точностью до которой определяется потенциал). Следовательно

(6)
Таким образом, для того, чтобы определить

нужно сначала найти

, решив дифференциальное уравнение (2a), в которое нужно подставить (1) или (1a), (3), (4) и (6), с граничными условиями (5). Это уравнение нужно решать отдельно при

и

, а при

использовать граничные условия
и
если используется (1a), или
если используется (1).
P.S. Для электрических величин здесь используется гауссова система единиц.