- на маске дефект можно найти. На готовом чипе задача получается найти дефектный транзистор из миллиардов, помножить на число чипов на одной пластине (wafer, "вафля" по-русски не говорят), помножить на число пластин.
Вот это глупость если у вас 400 операций вы что их все без контроля будете проводить? Контроль там на каждой операции.
Мягко говоря, нет. 192 нм используются лазеры. EUV мечта.
У кого мечта, а кто и чипы выпускает:
https://en.wikipedia.org/wiki/Extreme_u ... ithographyТех-процесс я описал.
У вас представления о процессоре примерно как у человека, который с паяльником собирал схемы из дискретных элементов, а как делается микросхема - понятия не имеет.
Я вам ссылки привел. Так что кто там чего не знает?
- на маске дефект можно найти. На готовом чипе задача получается найти дефектный транзистор из миллиардов, помножить на число чипов на одной пластине (wafer, "вафля" по-русски не говорят), помножить на число пластин.
А если подумать? У меня фото апарат 15 мпикселей снимать будем по 1 кадру в секунду эдак 2 минуты . 1,8 милиарда пикселей в секунду. Количество тарнзистеров 1 миллиард. На пластине 400 чипов, поставим 400 фото аппаратов.