Думаю, проблему, в общем виде можно сформулировать так:
Система из двух ч-ц с коорд.

и

и спиновыми переменными

и
до измерения описывается волновой ф-цией

(чистое состояние).
Подсистема, соотв. 2-й частице описывается матрицей плотности

После измерения некоторой наблюдаемой, относящейся к 1-й подсистеме, система "скатывается" в одно из собственных состояний этой наблюдаемой, так что состояние системы после измерения представляет собой смесь этих состояний и описывается матрицей плотности

.
Вопрос: какой будет МП 2-й подсистемы после измерения наблюдаемой, относящейся к 1-й? Другими словами - возможно ли, производя измерения наблюдаемых, относящихся ко 2-й подсистеме определить, производилось ли измерение первой?
P.S.: действие оператора на подсистему может быть записано в виде
