Итак, интерференция амплитуд от одного электрона при наличии грубого детектора будет, но она не наблюдаема. Для ее наблюдения нужно много точек на экране. А при большом числе электронов будет наложение случайно сдвинутых интерференционных картин, которое ничуть не похоже на привычную интерференцию.
Наконец можно рассмотреть совсем грубый детектор, который при прохождении волнового пакета одного электрона меняет фазу волновой функции много раз. В этом случае интерференция убивается моментально.
С верхним абзацем (и тем, что выше него), пожалуй, можно согласиться. А вот утверждения второго малость сомнительны. Просто в силу того, что «грубость детектора» и «много раз» суть довольно мутные термины. Желательно бы иметь чёткие критерии, а не общие слова.
Если при прохождении волнового пакета одного электрона детектор меняет фазу его волновой функции один раз, то интерференционная картинка уже смажется. Если десять раз, то интерференционная картинка практически исчезнет, будет широкий максимум.
Критерием является
видность интерференции. Этот параметр лекго расчитывается при заданных характеристиках детектора и других частей системы. Наиболее важные характеристики - насколько меняется фаза и амплитуда ВФ при взаимодействии с детектором и случайность или систематичность этих изменений.
