Можно что-то типа емкостного датчика, Помещаем пленку между обкладок плоского конденсатора, зная диэлектрическую проницаемость материала пленки, можно расчитать изменение емкости, вызываемое изменением толщины слоя диэлектрика, а изменение емкости меряем по изменению частоты колебательного контура( что-нибудь примитивное, емкость, сопротивление, какая-нибудь микросхема оу.) Но самое имхо лучшее здесь уже упоминалось, это измерение оптическим микроскопом. Только надо не срез пленки помещать под микроскоп, это не так то просто, а просто кусочек плоской пленки. Сначала настраиваемся на резкость по тыльной поверхности(пленка как я понял полупрозрачная) какие-то пылинки, точечки по ним наводим на резкость. Затем крутим колесико, фокусируемся на верхнюю поверхность и считаем количество микрончиков. Для статистики делаем это в различных точках.
Как Вы думаете, какого примерно увеличения будет для этого достаточно? Насколько я помню, чем больше увеличение, тем меньше глубина резкости, которая в этом случае нужна наиболее малая.
Правда, не очень представляю, как сфокусироваться на тыльной стороне, не думаю, что это будет так однозначно просто, хотя есть смысл попробовать посмотреть что получается.
-- Сб ноя 05, 2011 02:59:03 --Вырежте образец 1 мм на 1 мм. Если пленка сильно деформируеся после снятия, перед снятием нанесите тонким фломастером пятно и измерьте площадь. Взвесте и разделите вес на площадь. Плотность пленки можно измерить на большом образце.
Спасибо за еще одну идею, думаю, я попробую просто взвесить всю пленку по уступу зуба-коронки, так как нас интересует средняя величина зазора, а не абсолютная в определенных точках.
Хотя идея, конечно яркая. Ещё проблема: сопротивление будет в большой степени определяться формой наконечника щупа, тем, насколько он проникнет в плёнку, или как будет прилегать к плёнке, состоянием поверхности плёнки... в общем, как-то ненадёжно.