Из 3 х кварков собраны: протон или нейтрон. Они тяжелее в ~1800 раз электрона.Значит считают ученые кварки на несколько порядков больше, чем электрон.
Хоть и не совсем по теме, но ученые
так не считают. Вообще, "больше", особенно в данном контексте (разрешающая способность микроскопа), неудачный термин, т.к. как правильно заметил
AlexNew, Вы путаете грешное с праведным. Вообще полезно заглядывать в справочную информацию, которая в век интернета почти всегда под рукой. Масса кварков, из которых "собраны" протон/нейтрон, на два порядка меньше массы самого протона (нейтрона). Но дело не в массе.
Электроны, как и любые другие частицы, в определенных условиях ведут себя таким образом, что это поведение можно описать как поведение волны. Любая волна характеризуется длиной, что важно в явлениях дифракции. Препятствия размером заметно меньше длины волны огибаются волной - волна их "не замечает". Видимый свет имеет длину волны порядка сотен нанометров, отсюда ограничение в размерах наблюдаемых объектов. Электроны проявляют волновые свойства как волны с длиной
, т.е. зависящей от импульса (скорости движения) электронов. Указанная Вами длина волны сответствует тому импульсу (энергии), которую приобретают электроны в электронном микроскопе под действием напряжения в десятки-сотню киловольт (для сравнения - у видимого света эквивалентная величина составляет порядка двух вольт). Т.е. "просто" о длине волны электрона говорить некорректно - надо связывать ее со значением импульса (или энергии) электрона.
Альтернативой видимому свету, эквивалентной электронам в эл.микроскопе чисто из соображений длины волны, могло бы быть жесткое рентгеновское/мягкое гамма-излучение. Но есть другие препятствия - проблемы с оптикой. А на электроны, имеющие электрический заряд, можно воздействовать электрическим или магнитным полем, реализуя таким образом своеобразную оптику.
Резюме: надо говорить не о более мелких частицах, но о более энергетичных (с большим импульсом); однако помимо длины волны имеются и другие технические проблемы, которые связаны в том числе и... с разрешающей способностью: чем она выше, тем больше мешающее влияние мельчайших препятствий потока частиц, используемых для наблюдения "полезного" объекта. А если попытаться минимизировать взаимодействие "наблюдательных" частиц с помехами (как, например, с нейтронами), то вместо головы увязает хвост - тяжело управлять этими частицами, тяжело их регистрировать, т.е в конечном итоге формировать изображение, собирая информацию о пространственно-временном распределении в результате взаимодействия их с исследуемым объектом.