Здравствуйте.
Хочу применить оптимизационные методы неравномерных покрытий Ю.Г.Евтушенко к обучению искусственной нейронной сети (см., например,
http://www.ccas.ru/personal/evtush/p/EMS.pdf).
Здесь одной из ключевых составляющих данных методов является расчет константы Липшица (КЛ).
В книге Е. М. Миркеса "Нейрокомпьютер. Проект стандарта"
http://pca.narod.ru/mirk04.pdf (с.98-103) приводится описание расчета оценок КЛ снизу (по обучающей выборке - функции, заданной таблично)
и сверху (благодаря простому виду максимума производной активационной функции). Однако далее все это используется лишь для предобработки обучающей выборки в целях снижения КЛ и соответственно, снижения сложности задачи моделирования для нейросети.
Похожее применение описано у В.Г. Царегородцева
http://neuropro.ru/mypapers/neurcompmag03_1.pdf.
Не могу сообразить, насколько методы покрытий, опирающиеся на расчет КЛ, в данном случае применимы?
Используют ли вообще методы покрытий в оптимизационных задачах, возникающих в машинном обучении?
